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【发明授权】一种应用于多芯片调试系统的调试信息同步方法_上海思尔芯技术股份有限公司_202010886862.4 

申请/专利权人:上海思尔芯技术股份有限公司

申请日:2020-08-28

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN111984493B

主分类号:G06F11/263

分类号:G06F11/263;G06F11/273

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.09#授权;2022.09.30#著录事项变更;2020.12.11#实质审查的生效;2020.12.11#著录事项变更;2020.11.24#公开

摘要:本发明提供了一种应用于多芯片调试系统的调试信息同步方法,包括以下步骤:S1、多芯片调试系统的各个调试芯片产生调试信息数据包;S2、各个调试芯片的调试信息数据包依照时钟周期打包成若干个标准数据包,调试芯片的各个标准数据包按照时间顺序依次打上编号为1、2、3、……、n的标签;S3、各个调试芯片的打上标签的标准数据包分别传输至调试模块内;S4、调试模块接收各个调试芯片的标准数据包,按照标准数据包上的标签进行一一对齐;S5、将对齐后的标准数据包解包,并输出至后端逻辑进行调试处理。本发明的多芯片调试系统的调试信息同步方法,能够对来自多个调试芯片的调试数据进行快速的对齐,确保调试结果的准确性。

主权项:1.一种应用于多芯片调试系统的调试信息同步方法,其特征在于:包括以下步骤:S1、多芯片调试系统的各个调试芯片产生调试信息数据包;S2、各个调试芯片的调试信息数据包依照时钟周期打包成若干个标准数据包,调试芯片的各个标准数据包按照时间顺序依次打上编号为1、2、3、……、n的标签;S3、各个调试芯片的打上标签的标准数据包分别传输至调试模块内;S4、调试模块接收各个调试芯片的标准数据包,按照标准数据包上的标签进行一一对齐;S5、将对齐后的标准数据包解包,并输出至后端逻辑进行调试处理;步骤S3中,各个调试芯片上的标准数据包是经过调试通道传输至调试模块内的,调试通道为高速收发器。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海思尔芯技术股份有限公司 一种应用于多芯片调试系统的调试信息同步方法

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