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【发明授权】发光物料影像处理方法_旺矽科技股份有限公司_202011335792.X 

申请/专利权人:旺矽科技股份有限公司

申请日:2020-11-25

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN112985587B

主分类号:G01J1/42

分类号:G01J1/42;G06T3/4038

优先权:["20200923 TW 109132993","20191213 US 62/948,186"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.09#授权;2021.07.06#实质审查的生效;2021.06.18#公开

摘要:本发明涉及一种发光物料影像处理方法,其步骤包含:点亮一发光物料的至少部分发光单元;利用一影像撷取装置分别撷取发光物料的多个区块的影像,而得到分别对应各区块的多个检测影像,各区块包含多个被点亮的发光单元,各检测影像包含多个光点,各光点分别对应其所属检测影像所对应的区块的发光单元,每二相邻的区块有一重叠区域,重叠区域包含至少一被点亮的发光单元;以及利用重叠区域的至少一被点亮的发光单元所对应的光点作为对位参考点,而将相邻区块的检测影像相互拼接成一体;由此,本发明可将发光物料的全部发光单元的发光情况以单一影像呈现。

主权项:1.一种发光物料影像处理方法,利用一影像撷取装置撷取一发光物料的多个发光单元的影像,所述影像撷取装置的一视野范围小于所述发光物料的发光单元的分布范围;其特征在于所述发光物料影像处理方法的步骤包含有:点亮所述发光物料的至少部分发光单元;利用所述影像撷取装置分别撷取所述发光物料的多个区块的影像,得到分别对应各所述区块的多个检测影像,其中,各所述区块包含多个被点亮的所述发光单元,各所述检测影像包含多个光点,各所述光点分别对应其所属检测影像所对应的区块的发光单元,每二相邻的所述区块有一重叠区域,所述重叠区域包含至少一被点亮的所述发光单元;以所述重叠区域的至少一所述被点亮的所述发光单元所对应的光点作为对位参考点,将所述相邻区块的检测影像相互拼接成一体。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 旺矽科技股份有限公司 发光物料影像处理方法

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