申请/专利权人：日立乐金光科技株式会社

申请日：2020-11-10

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN113406655B

主分类号：G01S17/10

分类号：G01S17/10;G01S7/4865

优先权：["20200228 JP 2020-033450"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2021.10.08#实质审查的生效;2021.09.17#公开

摘要：本发明提供测量值修正方法和测距装置，能减少作业者为修正测距装置的测量值进行的准备工作，并能自动生成修正式。在准备步骤中，预先在远离测距装置1的方向上在测量空间的地板表面4粘贴有由回归反射部件制成的反射带5的状态下，在沿反射带5扫描测量位置Y的同时，由测距装置1测量与反射带的内侧区域51a的距离La和与相邻于该区域的反射带的外侧区域51b的距离Lb。基于在各测量位置Y获得的距离La与距离Lb的关系，生成用于将距离Lb变换为距离La的修正式。在实测步骤中，用所述修正式修正由测距装置1测量出的其与对象物3的距离实测值x，计算测量距离的修正值y。

主权项：1.一种根据光的传播时间来测量与对象物的距离的测距装置中的测量距离的修正方法，其特征在于：作为用于进行修正的准备步骤，包括：预先在远离所述测距装置的方向上在测量空间的地板表面粘贴有由回归反射部件制成的反射带的状态下，在沿所述反射带扫描测量位置的同时，由所述测距装置测量与所述反射带的内侧区域的距离La和与相邻于该内侧区域的所述反射带的外侧区域的距离Lb的步骤；和基于在各测量位置获取的所述距离La与所述距离Lb的关系，生成用于将所述距离Lb变换为所述距离La的修正式的步骤，作为测量与所述对象物的距离的实测步骤，包括：由所述测距装置测量其与所述对象物的距离而获得实测值x的步骤；和用所述修正式修正所述实测值x，计算测量距离的修正值y的步骤。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 日立乐金光科技株式会社 测距装置的测量值修正方法和测距装置

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