申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日：2022-09-29

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117824835A

主分类号：G01J3/45

分类号：G01J3/45;G01J3/28;G01J3/02;G01M9/06

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.05#公开

摘要：本发明涉及一种用于光谱探测的光学系统，具体涉及一种用于风场探测的双通道多普勒差分光谱仪光学系统。解决了现有用于临近空间风场探测的多普勒差分光谱仪光学系统，无法同时满足体积小、双通道同时工作以及灵敏度较高的技术问题。本发明光学系统包括沿光路依次设置的前置分色镜头、多普勒差分干涉仪、条纹成像镜头和光电探测器；多普勒差分干涉仪中的两个光栅设计为结构相同的堆叠光栅；堆叠光栅由两个刻线密度不同的低衍射级次光栅堆叠而成。本发明通过光栅堆叠的方式将两个不同刻线密度的闪耀光栅进行耦合，并匹配干涉仪中的视场棱镜实现视场展宽，从而实现光学系统满足双通道、小体积、高灵敏度的设计要求。

主权项：1.一种用于风场探测的双通道多普勒差分光谱仪光学系统，其特征在于：包括沿光路依次设置的前置分色镜头1、多普勒差分干涉仪2、条纹成像镜头3和光电探测器4；所述多普勒差分干涉仪2包括分束器21、第一视场展宽棱镜22、第二视场展宽棱镜23和两个光栅；两个不同波长的入射光经前置分色镜头1的两个通道成像在多普勒差分干涉仪2的入瞳定域面不同位置处，并分别在多普勒差分干涉仪2的出瞳定域面处形成干涉图，干涉图经条纹成像镜头3成像在光电探测器4上；所述多普勒差分干涉仪2中的两个光栅分别为第一堆叠光栅24和第二堆叠光栅25；所述第一堆叠光栅24和第二堆叠光栅25的结构相同，均由两个刻线密度不同的低衍射级次光栅堆叠而成；刻线密度根据所需波长确定；第一堆叠光栅24中靠近第一视场展宽棱镜22的低衍射级次光栅和第二堆叠光栅25中靠近第二视场展宽棱镜23的低衍射级次光栅的刻线密度相同。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种用于风场探测的双通道多普勒差分光谱仪光学系统

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