申请/专利权人：苏州储慧智能科技有限公司

申请日：2023-12-22

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117825976A

主分类号：G01R31/374

分类号：G01R31/374;G01R31/378;G01R31/389;G01R31/367;G01R31/396;G01B15/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本申请涉及锂电池技术领域，公开了一种基于电池阻抗谱的锂电池SEI膜生长厚度估计方法，包括进行锂电池全生命周期多老化应力交叉测试实验，同时在不同老化阶段进行对应的电池阻抗谱测试实验，并设置阻抗谱测试频率f；在锂电池不同老化点完成SEI膜生长厚度表征，在步骤一进行过程中，选择测试的锂电池进行拆解表征并测量SEI膜生长厚度；采用随机森林算法构建基于电池阻抗谱的内部SEI膜厚度估计模型。通过随机森林数据驱动算法将锂电池内部不易观测的SEI膜生长厚度与容易测量的电池外部阻抗之间建立了映射关系，从而可以在锂电池服役过程中完成无拆解情况下的电池内部SEI膜生长厚度估计。

主权项：1.一种基于电池阻抗谱的锂电池SEI膜生长厚度估计方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、进行锂电池全生命周期多老化应力交叉测试实验，同时在不同老化阶段进行对应的电池阻抗谱测试实验，并设置阻抗谱测试频率f；步骤二、在锂电池不同老化点完成SEI膜生长厚度表征，在步骤一进行过程中，选择测试的锂电池进行拆解表征并测量SEI膜生长厚度；步骤三、采用随机森林算法构建基于电池阻抗谱的内部SEI膜厚度估计模型，以SEI膜厚度表征结果为输出，以与其对应的相同老化测试点的电池阻抗谱为输入，采用随机森林算法构建其阻抗谱与SEI膜厚度之间的映射关系，从而实现基于电池阻抗谱的锂电池SEI膜生长厚度估计；步骤四、进行锂电池多老化应力交叉测试实验中的SEI膜生长规律分析；步骤五、在随机森林算法模型构建完毕之后，便可在无拆解情况下估计在役锂电池内部的SEI膜生长厚度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州储慧智能科技有限公司 一种基于电池阻抗谱的锂电池SEI膜生长厚度估计方法

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