申请/专利权人:芯测通(深圳)半导体有限公司
申请日:2024-01-30
公开(公告)日:2024-04-05
公开(公告)号:CN117831607A
主分类号:G11C29/56
分类号:G11C29/56
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开
摘要:本发明涉及自动化测试技术领域,尤其涉及自动化测试结构及ATE设备,该结构包括:中央处理器和FPGA;其中,FPGA通过8位数据汇流排接口与中央处理器连接,FPGA还与待测设备连接;中央处理器,用于通过8位数据汇流排接口输出测试指令至FPGA;FPGA,用于在接收到测试指令时,对待测设备进行测试。本发明利用FPGA在电路功能设计上具有弹性的特点,通过8位数据汇流排接口输出测试指令至FPGA,由于使用的汇流排接口传输数据位数较少,在电路设计上可以减少使用面积和资源的消耗,同时操作和扩展也变得简单方便。
主权项:1.一种自动化测试结构,其特征在于,所述结构包括:中央处理器和FPGA;其中,所述FPGA通过8位数据汇流排接口与所述中央处理器连接,所述FPGA还与待测设备连接;所述中央处理器,用于通过8位数据汇流排接口输出测试指令至所述FPGA;所述FPGA,用于在接收到所述测试指令时,对所述待测设备进行测试。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 芯测通(深圳)半导体有限公司 自动化测试结构及ATE设备
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。