申请/专利权人：上海无线电设备研究所

申请日：2023-11-17

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117830641A

主分类号：G06V10/40

分类号：G06V10/40;G01S13/88;G01S7/41;G06V10/762

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本发明公开了一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法，其包含：步骤S1、采用天线对目标进行近场圆柱面散射特性扫描测试；步骤S2、将圆柱坐标系下的扇形柱面数据插值到直角坐标系，然后对插值后的频域数据进行逆傅里叶变换，得到目标在3个维度方向上的散射成像；步骤S3、通过3个方向上的一维距离像提取对应维度下的一维散射中心位置，将这些位置组成三维散射中心的候选位置，然后采用CLEAN算法对候选位置进行幅度参数估计，得到目标三维散射中心模型；步骤S4、对步骤S3中的散射中心进行聚类，合并位置和幅度参数，生成目标的散射中心模型和重构散射数据。本发明对圆柱包围面扫描测试数据进行建模，保证了建模精度，建模速度更为快速。

主权项：1.一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法，其特征在于，包括：步骤S1、采用天线对目标进行近场圆柱面散射特性扫描测试，得到柱面散射数据；其中，所述近场指天线与待测目标中心的柱坐标径向距离满足：R＜2D2λ其中D为目标的最大尺寸，λ为测试频率对应波长，即天线位置在目标散射场的近场区；所述散射特性测试指在给定测试频率f、径向距离R、方位角φ、坐标z条件下目标的RCS；步骤S2、根据所述柱面散射数据，将圆柱坐标系下的扇形柱面数据插值到直角坐标系，然后对插值后的频域数据进行逆傅里叶变换，得到目标在三个维度方向上的散射成像；步骤S3、通过三个方向上的一维距离像提取对应维度下的一维散射中心位置，将这些位置组成三维散射中心的候选位置，然后采用CLEAN算法对候选位置进行幅度参数估计，得到目标三维散射中心模型；步骤S4、对所述散射中心进行聚类，合并位置和幅度参数，生成目标的散射中心模型和重构散射数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海无线电设备研究所 一种圆柱包围面扫描测试的目标散射中心提取方法

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