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【发明公布】基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法_西安电子科技大学_202410021298.8 

申请/专利权人:西安电子科技大学

申请日:2024-01-05

公开(公告)日:2024-04-05

公开(公告)号:CN117826109A

主分类号:G01S7/41

分类号:G01S7/41;G01S13/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要:本发明公开了一种基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法,本发明在双基雷达空间中划分杂波单元;分别计算各个杂波单元相对于发射和接收平台的擦地角;利用双基等效单基原理计算等效擦地角;确认杂波参数,计算修正前的面内杂波散射系数;用计算各个杂波单元对应的外平面角,修正面内散射模型,得到修正后杂波散射系数;分别计算空时二维导向矢量和杂波单元回波幅度,将得到的所有回波幅度生成杂波回波谱。本发明用各个杂波单元对应的外平面角,修正面内散射模型,得到面外散射情况下的杂波散射系数,本发明不仅可用于多种杂波类型生成对应的杂波谱,同时减小工程实现过程中的散射系数误差。

主权项:1.一种基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法,其特征在于,用计算所选杂波单元对应的外平面角,计算面外散射系数,修正面内散射模型,得到精确双基地雷达杂波谱;该生成方法具体步骤如下:步骤1,在双基雷达空间中划分杂波单元;步骤2,任意选取一个未选过的杂波单元,分别计算所选杂波单元相对于发射平台和接收平台的发射站擦地角和接收站擦地角;步骤3,计算等效擦地角;步骤4,计算修正前的面内杂波散射系数;步骤5,用计算所选杂波单元对应的外平面角,修正面内散射模型,得到面外散射情况下的杂波散射系数;步骤6,分别计算空时二维导向矢量和杂波单元回波幅度,将重复步骤2-步骤5得到的所有回波幅度生成杂波回波谱。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安电子科技大学 基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法

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