申请/专利权人：芯能量集成电路(上海)有限公司

申请日：2023-12-13

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117407346B

主分类号：G06F13/40

分类号：G06F13/40;G06F13/42

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.05#授权;2024.02.02#实质审查的生效;2024.01.16#公开

摘要：本发明提供了一种车规级芯片外部FLASH的采样点调整系统及方法，该系统包括：CPU和FLASH控制器；FLASH控制器包括数据采样模块，数据采样模块使用PLL原始时钟作为第一采样时钟信号，并将PLL原始时钟经过反相器相位反转后的时钟信号作为第二采样时钟信号；CPU内存储有映射表；CPU在从外部FLASH读取数据时，根据温度传感器所测得环境温度查找所述映射表获得目标采样点位置，并将目标采样点位置发送至数据采样模块，数据采样模块调整当前采样点位置为目标采样点位置进行数据采样。该方案能够对FLASH传输数据的采样点进行灵活调整，确保在不同的使用环境下可以正确采样到数据。

主权项：1.一种车规级芯片外部FLASH的采样点调整系统，其特征在于，包括：CPU和FLASH控制器；所述FLASH控制器包括数据采样模块，所述数据采样模块与外部FLASH连接，所述数据采样模块使用PLL原始时钟作为第一采样时钟信号，并将PLL原始时钟经过反相器相位反转后的时钟信号作为第二采样时钟信号，系统的串行时钟频率最高是采样时钟的4分频，所述第一采样时钟信号结合所述第二采样时钟信号使系统在一个数据周期内至少存在8个采样位置；所述CPU内存储有映射表，所述映射表包括在芯片调试阶段，基于所述第一采样时钟信号和所述第二采样时钟信号，预先测试得到的不同环境温度下的数据采样延迟时间和能够正确采样到FLASH输入数据的采样点位置的对应关系；所述CPU在从外部FLASH读取数据时，根据温度传感器所测得环境温度查找所述映射表获得目标采样点位置，并将所述目标采样点位置发送至所述数据采样模块，所述数据采样模块调整当前采样点位置为所述目标采样点位置进行数据采样。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 芯能量集成电路(上海)有限公司 一种车规级芯片外部FLASH的采样点调整系统及方法

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