申请/专利权人：深圳市辰卓科技有限公司

申请日：2023-03-31

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN116299125B

主分类号：G01R35/00

分类号：G01R35/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.05#授权;2023.07.11#实质审查的生效;2023.06.23#公开

摘要：本申请实施例提供了一种ATE设备的参数校准方法、装置及系统，涉及测试技术领域。其中，该方法包括：应用于校准系统；所述方法包括：控制所述校准单元对所述负载单元进行校准；若所述负载单元完成校准，则控制所述校准单元对所述ATE设备的多个IO通道单元进行校准；其中，多个IO通道单元的校准包括：对多个IO通道单元中的高精密测量单元串行地进行校准；若各所述IO通道单元的高精密测量单元完成校准，则基于各所述IO通道单元中完成校准的高精密测量单元，对各所述IO通道单元中的多个四象限单引脚参数测量单元并行地进行校准、以及对各所述IO通道单元中的多个引脚单元并行地进行校准。本申请实施例解决了相关技术中ATE设备的参数校准的效率低下的问题。

主权项：1.一种ATE设备的参数校准方法，其特征在于，应用于校准系统，所述校准系统包括主控模块、校准负载模块以及ATE设备；所述校准负载模块包括校准单元和负载单元；所述ATE设备包括待校准的多个待校准板，各所述待校准板包括多个输入输出IO通道单元，各IO通道单元包括多路IO通道，所述多路IO通道复用一个高精密测量单元，各路IO通道分别被至少一个四象限单引脚参数测量单元和至少一个引脚单元复用；所述方法包括：控制所述校准单元对所述负载单元进行校准；若所述负载单元完成校准，则控制所述校准单元对所述ATE设备内通过Relay切换接入的所述待校准板中的多个IO通道单元进行校准；其中，通过Relay切换接入的所述待校准板中的多个IO通道单元的校准包括：对多个IO通道单元中的高精密测量单元串行地进行校准；若各所述IO通道单元的高精密测量单元完成校准，则基于各所述IO通道单元中完成校准的高精密测量单元，对各所述IO通道单元中的多个四象限单引脚参数测量单元并行地进行校准、以及对各所述IO通道单元中的多个引脚单元并行地进行校准。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市辰卓科技有限公司 ATE设备的参数校准方法、装置及系统

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