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【发明公布】一种绝对式四自由度位姿传感器_清华大学深圳国际研究生院_202410045915.8 

申请/专利权人:清华大学深圳国际研究生院

申请日:2024-01-12

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117870611A

主分类号:G01C1/00

分类号:G01C1/00;G01B11/26

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明公开了一种绝对式四自由度位姿传感器,包括光源模块、测量光栅模块、准直模块、分光模块、大角度监测模块、光隔离器、小角度测量模块,大角度监测模块包括监测组件,小角度测量模块包括测量组件;光源模块产生光源,入射打在测量光栅模块上衍射产生衍射光,衍射光经过准直模块进行准直后形成准直光束,准直光束进入分光模块生成大角度监测光束和小角度测量光束,大角度监测光束照射在监测组件上得到第一组光斑位姿,小角度测量光照射在测量组件上形成衍射光斑并得到第二组光斑位姿,大角度监测模块的等效光路长度大于小角度测量模块的等效光路长度。本发明实现在大角度范围下的空间物体位姿测量与矫正,有效的降低测量系统复杂度。

主权项:1.一种绝对式四自由度位姿传感器,其特征在于,包括光源模块、测量光栅模块、准直模块、分光模块、大角度监测模块、光隔离器、小角度测量模块,所述大角度监测模块包括监测组件,小角度测量模块包括测量组件;所述光源模块产生光源,入射打在所述测量光栅模块上衍射产生衍射光,所述衍射光经过所述准直模块进行准直后形成准直光束,所述准直光束进入所述分光模块生成大角度监测光束和小角度测量光束,所述大角度监测光束照射在所述监测组件上得到第一组光斑位姿,所述小角度测量光束经所述光隔离器射入所述小角度测量模块,所述小角度测量光束照射在所述测量组件上形成衍射光斑并得到第二组光斑位姿,所述大角度监测模块的等效光路长度大于小角度测量模块的等效光路长度,所述等效光路长度为从测量光栅模块到监测组件或测量组件的等效光路长度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 清华大学深圳国际研究生院 一种绝对式四自由度位姿传感器

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