申请/专利权人：中国地质大学(武汉)

申请日：2022-07-12

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN115166608B

主分类号：G01R33/032

分类号：G01R33/032

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2022.10.28#实质审查的生效;2022.10.11#公开

摘要：本发明提供一种基于相位偏置量子弱测量的绝对弱磁场测量设备及方法，该设备包括主光路组件、弱耦合光路组件和处理组件，其中弱耦合光路组件用以件待测的磁场耦合到光束中；该设备的测量方法包括前期的调试和后期的测量。本发明的设备及方法可以实现对磁场大小的高灵敏度和高精度的测量，同时在正式测量前对设备进行有效的矫零调试确保结果的准确性。

主权项：1.基于相位偏置量子弱测量的绝对弱磁场测量设备，其特征在于：包括主光路组件、弱耦合光路组件和处理组件；所述主光路组件包括激光源、高斯滤波片、分光镜、第一偏振片、半波片和第一四分之一波片，其中所述激光源发射水平光束经所述高斯滤波片入射到所述分光镜，所述分光镜的透射光经所述第一偏振片、半波片和所述第一四分之一波片形成前选择偏振光，所述分光镜的反射光入射到所述处理组件形成基准光谱；所述弱耦合光路组件包括偏振分束器、第一准直透镜、磁光效应光纤环、第二准直透镜和Soleil-Babinet补偿器，其中所述前选择偏振光入射到所述偏振分束器形成第一偏振光和第二偏振光，所述第一偏振光经所述第一准直透镜、所述磁光效应光纤环、所述第二准直透镜和所述Soleil-Babinet补偿器形成第一耦合光并入射到所述偏振分束器，所述第二偏振光经所述Soleil-Babinet补偿器、所述第二准直透镜、所述磁光效应光纤环和所述第一准直透镜形成第二耦合光并入射到所述偏振分束器，所述第一耦合光和所述第二耦合光经所述偏振分束器合成耦合光束，且经第二四分之一波片和第二偏振片形成后选择偏振光并入射到所述处理组件形成测量光谱；所述处理组件用以根据所述基准光谱和所述测量光谱，以直接获取所述测量光谱的中心波长位移，并结合基于相位偏置量子弱测量原理推理得到的中心波长位移与所述磁光效应光纤环的磁场的表征关系，计算得到所述磁场大小。

全文数据：

权利要求：

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