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【发明公布】太阳黑子相对数确定方法、装置、电子设备及介质_北京联合大学;中国测绘科学研究院_202311640239.0 

申请/专利权人:北京联合大学;中国测绘科学研究院

申请日:2023-12-01

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117876294A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/136;G06T7/62;G06T7/13;G06T7/12

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明提供一种太阳黑子相对数确定方法、装置、电子设备及介质,属于图像处理技术领域。该方法包括:基于对全日面单色像进行灰度化处理后得到的第一图像,确定太阳黑子数量;基于所述太阳黑子数量和所述太阳黑子数量对应的太阳黑子群数量,确定日震和日磁成像仪HMI对应的太阳黑子相对数,所述太阳黑子群数量通过形态学腐蚀运算确定;基于所述HMI对应的太阳黑子相对数和目标太阳黑子相对数,确定目标换算因子;基于所述目标换算因子、所述太阳黑子数量和所述太阳黑子群数量,确定所述全日面单色像对应的太阳黑子相对数。本发明提供的太阳黑子相对数确定方法,可以提高太阳黑子相对数的计算准确率。

主权项:1.一种太阳黑子相对数确定方法,其特征在于,包括:基于对全日面单色像进行灰度化处理后得到的第一图像,确定太阳黑子数量;基于所述太阳黑子数量和所述太阳黑子数量对应的太阳黑子群数量,确定日震和日磁成像仪HMI对应的太阳黑子相对数,所述太阳黑子群数量通过形态学腐蚀运算确定;基于所述HMI对应的太阳黑子相对数和目标太阳黑子相对数,确定目标换算因子;基于所述目标换算因子、所述太阳黑子数量和所述太阳黑子群数量,确定所述全日面单色像对应的太阳黑子相对数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京联合大学;中国测绘科学研究院 太阳黑子相对数确定方法、装置、电子设备及介质

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