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【发明公布】确定物体的区域的相位和/或折射率的方法以及确定物体的区域的相位和/或折射率的显微镜_卡尔蔡司显微镜有限责任公司_202311310721.8 

申请/专利权人:卡尔蔡司显微镜有限责任公司

申请日:2023-10-10

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117871467A

主分类号:G01N21/41

分类号:G01N21/41;G02B21/00

优先权:["20221012 DE 102022126509.9"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.04.12#公开

摘要:提供确定物体4的区域4'的相位和或折射率的方法,a用相干或部分相干的光照射物体区域4’,借助于显微镜1的具有物镜9的成像光学单元7,沿从物体区域4'开始直到像平面的成像光路以不同的成像属性将物体区域4'成像到像平面上数次并进行记录,以获得物体区域4'的多个强度记录,b在多个强度记录的基础上进行相位和或折射率的确定,c不同的成像属性至少就不同的相移而言不同,不同的相移被附加地引入成像光路,不同的相移的产生方式不同于通过在进行记录时改变聚焦,d通过将至少一个光学元件引入物镜9和或操纵物镜9的至少一个光学元件12来实现被附加地引入成像光路的不同的相移。

主权项:1.一种确定物体4的区域4’的相位和或折射率的方法,其中a用相干或部分相干的光照射所述物体区域,并借助于显微镜1的具有物镜9的成像光学单元7,沿着从所述物体区域4'开始直到像平面的成像光路,以不同的成像属性将所述物体区域4'成像到像平面上数次并进行记录,以获得所述物体区域4'的多个强度记录,b在所述多个强度记录的基础上执行所述相位和或折射率的确定,c其中,所述不同的成像属性至少就不同的相移而言是不同的,所述不同的相移被附加地引入所述成像光路,并且所述不同的相移的产生方式不同于通过在执行所述记录时改变聚焦,并且其中d通过将至少一个光学元件引入物镜9和或操纵所述物镜9的至少一个光学元件12来实现被附加地引入所述成像光路的所述不同的相移。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 确定物体的区域的相位和/或折射率的方法以及确定物体的区域的相位和/或折射率的显微镜

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