申请/专利权人：南京理工大学智能计算成像研究院有限公司

申请日：2023-12-31

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117871468A

主分类号：G01N21/41

分类号：G01N21/41;G01N15/1434

优先权：["20230523 CN 202310581345X"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明公开了一种用于波长扫描光学衍射层析成像系统的色差校正方法。本发明采用超连续谱激光器作为成像系统色差标定的光源，通过声光可调滤波器进行滤波产生不同波长的光垂直照射样品，采集一系列波长扫描照明下的样品强度图。然后将照明光源调整至预定基准波长，采集一组轴向离焦强度堆栈。采用互相关算法依次计算不同波长下采集的强度图像和基准强度堆栈之间的等效离焦距离参数，从而标定成像系统的色差。本发明通过标定的色差计算生成具有色差校正的孔径函数实现色差校正，避免了宽波长扫描范围中色差引起的重建伪影。本发明光路简单，无需对光学衍射层析所使用的成像系统进行复杂的改进，尤其对于基于波长扫描照明的光学衍射层析成像方法，能够显著提升成像质量。

主权项：1.一种用于波长扫描光学衍射层析成像系统的色差校正方法，其特征在于，步骤如下：步骤1：采集波长扫描照明下的被测样品一系列原始强度图像；步骤2：采集预定基准波长照明下被测样品的一组轴向离焦强度图像堆栈；步骤3：使用互相关算法依次计算不同波长下采集的强度图像和基准强度图像堆栈之间的互相关系数矩阵，直至所有波长下采集到的强度图像都参与计算，得到成像系统的色差参数；步骤4：在步骤3中得到的成像系统色差参数的基础上，计算生成对应不同波长的色差校正孔径函数；步骤5：将色差校正孔径函数带入光学衍射层析的重建过程中，实现色差校正。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京理工大学智能计算成像研究院有限公司 用于波长扫描光学衍射层析成像系统的色差校正方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD