申请/专利权人：西安电子科技大学

申请日：2024-01-17

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117871536A

主分类号：G01N21/88

分类号：G01N21/88;G01N21/01

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明公开了一种用于表面缺陷检测的大范围变距离测量装置，包括：光源提供模块、漫反射透光屏和定焦相机；其中，所述定焦相机位于所述漫反射透光屏的一侧且两者间隔固定距离，被测对象位于所述漫反射透光屏的另一侧；所述光源提供模块用于提供点光源，所述点光源朝所述被测对象发光，所述点光源发出的光被所述被测对象反射至所述漫反射透光屏上成像；所述定焦相机对所述漫反射透光屏所成的像进行拍摄，得到所述被测对象的表面缺陷图像。本发明实现了大范围变距离、低成本的表面缺陷检测。

主权项：1.一种用于表面缺陷检测的大范围变距离测量装置，其特征在于，包括：光源提供模块、漫反射透光屏和定焦相机；其中，其中，所述定焦相机和所述漫反射透光屏间隔固定距离；所述光源提供模块用于提供点光源，所述点光源朝被测对象发光，所述点光源发出的光被所述被测对象反射至所述漫反射透光屏上成像；所述定焦相机对所述漫反射透光屏所成的像进行拍摄，得到所述被测对象的表面缺陷图像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安电子科技大学 一种用于表面缺陷检测的大范围变距离测量装置

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