申请/专利权人：深圳市森威尔科技开发股份有限公司

申请日：2024-01-12

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117870747A

主分类号：G01D18/00

分类号：G01D18/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本申请涉及互联网技术领域，提供了一种传感器偏差校正方法、装置、传感器及存储介质。本申请通过根据两次标定环境中参考传感器的参考值及对应的目标传感器的测量值，得到传感器趋势校正系数，根据所述两次标定环境中任意一个标定环境中所述参考传感器的参考值及对应的所述目标传感器的测量值，得到Y轴偏差值，获取所述目标传感器的实时测量值，根据所述传感器趋势校正系数、所述Y轴偏差值及所述Y轴偏差值对应的所述参考值，对所述实时测量值进行校正，得到目标校正值。本申请能够解决待校正的传感器硬件存在的一致性偏差问题。

主权项：1.一种传感器偏差校正方法，其特征在于，所述方法包括：根据两次标定环境中参考传感器的参考值及对应的目标传感器的测量值，得到传感器趋势校正系数；根据所述两次标定环境中任意一个标定环境中所述参考传感器的参考值及对应的所述目标传感器的测量值，得到Y轴偏差值；获取所述目标传感器的实时测量值；根据所述传感器趋势校正系数、所述Y轴偏差值及所述Y轴偏差值对应的所述参考值，对所述实时测量值进行校正，得到目标校正值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市森威尔科技开发股份有限公司 传感器偏差校正方法、装置、传感器及存储介质

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