申请/专利权人：北京遥测技术研究所

申请日：2023-09-21

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN220762202U

主分类号：B24B37/00

分类号：B24B37/00;B24B37/34;B24B37/27

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权

摘要：本实用新型提供一种光学组件隔圈研磨装置，包括三轴龙门直线模组，设置在三轴龙门直线模组内部底面的铸铁研磨平台和依次连接在三轴龙门直线模组Z轴末端的缓冲组合、连接组合、调节组合、柔节组合、测力组合、夹持组合。本实用新型利用三轴龙门直线模组作为运动执行部件，使用铸铁研磨平台配合金刚石研磨膏作为研磨基底，利用安装在三轴龙门直线模组Z轴上的缓冲组合、连接组合、调节组合、柔节组合、测力组合和夹持组合，对光学组件隔圈零件进行精密研磨，在研磨过程中提供可调且稳定的压力，根据量化的压力变化和研磨量变化对研磨压力进行调整，确保进行研磨时各点研磨量稳定均匀，达到微米级别的高精度研磨效果。

主权项：1.一种光学组件隔圈研磨装置，其特征在于：包括三轴龙门直线模组1，设置在所述三轴龙门直线模组1内部底面的铸铁研磨平台2和依次连接在所述三轴龙门直线模组1Z轴末端的缓冲组合3、连接组合4、调节组合5、柔节组合6、测力组合7、夹持组合8，待研磨光学组件隔圈固定在所述夹持组合8底部且位于所述铸铁研磨平台2上部；所述三轴龙门直线模组1带动所述缓冲组合3、连接组合4、调节组合5、柔节组合6、测力组合7、夹持组合8和所述待研磨光学组件隔圈在所述铸铁研磨平台2上前后左右上下移动，以所述铸铁研磨平台2作为研磨基底对所述待研磨光学组件隔圈进行研磨。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京遥测技术研究所 一种光学组件隔圈研磨装置

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