申请/专利权人:株式会社和冠
申请日:2019-05-29
公开(公告)日:2024-04-23
公开(公告)号:CN112005203B
主分类号:G06F3/041
分类号:G06F3/041;G06F3/044
优先权:["20180606 JP 2018-108534"]
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.23#授权;2021.06.01#实质审查的生效;2020.11.27#公开
摘要:提供不需要大型的显示面板专用的集成电路的笔检测系统。为此,笔检测系统1包括:集成电路3a,连接于第一部分列电极组2xGa,取得表示第一部分列电极组中的笔信号的电平分布的第一列电平分布,连接于第一部分行电极组2yGa,取得表示第一部分行电极组中的笔信号的电平分布的第一行电平分布;及集成电路3b,连接于第二部分列电极组2xGb,取得表示第二部分列电极组中的笔信号的电平分布的第二列电平分布,连接于第二部分行电极组2yGb,取得表示第二部分行电极组中的笔信号的电平分布的第二行电平分布,笔检测系统1基于第一及第二列电平分布来导出笔的列方向位置,基于第一及第二行电平分布来导出笔的行方向位置。
主权项:1.一种笔检测系统,检测从笔发送出的笔信号而检测所述笔的位置,其中,包括:传感器图案,通过包括第一部分列电极组及第二部分列电极组的列电极组与包括第一部分行电极组及第二部分行电极组的部分行电极组重叠配设于二维区域而构成;第一集成电路,连接于所述第一部分列电极组,取得表示所述第一部分列电极组中的所述笔信号的电平分布的第一列电平分布,连接于所述第一部分行电极组,取得表示所述第一部分行电极组中的所述笔信号的电平分布的第一行电平分布;及第二集成电路,连接于所述第二部分列电极组,取得表示所述第二部分列电极组中的所述笔信号的电平分布的第二列电平分布,连接于所述第二部分行电极组,取得表示所述第二部分行电极组中的所述笔信号的电平分布的第二行电平分布,所述笔检测系统基于所述第一列电平分布及第二列电平分布来导出所述二维区域中的所述笔的列方向位置,所述笔检测系统基于所述第一行电平分布及第二行电平分布来导出所述二维区域中的所述笔的行方向位置,构成所述列电极组的多个列电极中的位于所述第一部分列电极组与所述第二部分列电极组的交界附近的规定数量的交界列电极连接于所述第一集成电路及第二集成电路双方,所述第一集成电路及第二集成电路配置于与形成所述传感器图案的基板不同的电路基板上,在所述电路基板设置有:主线路,将所述交界列电极与所述第一集成电路及第二集成电路的一方连接;及分支线路,在所述电路基板内将所述主线路与所述第一集成电路及第二集成电路的另一方连接。
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