申请/专利权人：佳能株式会社

申请日：2020-03-05

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN111685782B

主分类号：A61B6/00

分类号：A61B6/00;A61B6/42

优先权：["20190312 JP 2019-045136"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2020.10.20#实质审查的生效;2020.09.22#公开

摘要：本发明公开了放射线成像装置、图像处理装置及方法和存储介质。一种图像处理装置，其处理从成像传感器获得的图像，该成像传感器具有以矩阵模式布置的多个像素，像素包括用于获得与放射线剂量对应的像素值的第一像素组和用于甚至在用放射线进行照射的情况下获得偏移值的第二像素组，该图像处理装置基于在没有用放射线进行照射的情况下通过成像操作从该多个像素获得的暗图像对在用放射线进行照射的情况下通过成像操作从该多个像素获得的放射线图像执行偏移校正、计算经校正的放射线图像的从第二像素组获得的像素值的统计值，以及基于统计值的时间上的变化对已经被偏移校正的从第一像素组获得的像素值进行校正。

主权项：1.一种图像处理装置，该图像处理装置处理从成像传感器获得的图像，成像传感器具有以矩阵模式布置的多个像素，所述像素包括用于获得与放射线剂量对应的像素值的第一像素组和用于甚至在用放射线进行照射的情况下获得偏移值的第二像素组，该装置包括：第一获取单元，被配置为基于在没有用放射线进行照射的情况下通过成像操作从所述多个像素获得的暗图像，获取用于第一偏移校正的偏移图像；第二获取单元，被配置为获取在用放射线进行照射的情况下从所述多个像素输出的多个放射线图像；第三获取单元，被配置为基于所述多个放射线图像中的与包括在第一定时放射线图像内的第二像素组对应的多个像素值的统计值、以及所述多个放射线图像中的与包括在第二定时放射线图像内的第二像素组对应的多个像素值的统计值，获取用于第二偏移校正的统计值，其中所述用于第二偏移校正的统计值是通过递归处理来获取的，所述递归处理是通过使用加权、对第一定时放射线图像内的第二像素组对应的多个像素值的统计值和第二定时放射线图像内的第二像素组对应的多个像素值的统计值进行整合；以及第四获取单元，被配置为利用所述用于第一偏移校正的偏移图像和所述用于第二偏移校正的统计值，来获取所述多个放射线图像中的与第三定时放射线图像对应的校正图像，其中，在利用所述用于第一偏移校正的偏移图像对第三定时放射线图像进行校正后，利用所述用于第二偏移校正的统计值对校正后的放射线图像内的第一像素组对应的像素值进行校正，以及其中，所述第一定时在所述第二定时之前，以及所述第二定时在所述第三定时之前。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 佳能株式会社 放射线成像装置、图像处理装置及方法和存储介质

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