申请/专利权人：创远信科(上海)技术股份有限公司

申请日：2023-12-25

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117893627A

主分类号：G06T11/00

分类号：G06T11/00;G01R23/16;G06T11/20

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.16#公开

摘要：本发明涉及一种针对实时频谱测量实现余辉效应处理的方法，包括以下步骤：划分栅格，将采集的数据进行概率分析并填充在对应的栅格中；得到一定范围功率在一定频率范围内的概率值，多次计算频谱概率时累计功率出现的次数；将频谱概率数据转换成二维的数据，构造数据模型；得到余辉频谱图，对每帧频谱概率数据进行颜色映射的调整。本发明还涉及一种实现实时频谱测量中余辉效应的装置、处理器及可读存储介质。采用了本发明的针对实时频谱测量实现余辉效应处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质，可以灵活划分频率和功率的热力图栅格，数据缓存机制可以保留所有频谱数据进行瞬时信号的分析，采用非线性的热力图映射关系可以使余辉频谱图颜色分布更加均衡和灵活。

主权项：1.一种针对实时频谱测量实现余辉效应处理的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：1划分栅格，将采集的数据进行概率分析并填充在对应的栅格中；2根据底层频谱数据划分功率和频率的栅格，得到一定范围功率在一定频率范围内的概率值，多次计算频谱概率时累计功率出现的次数；3将频谱概率数据转换成二维的数据并绘制热力图，构造数据模型；4对多层概率图叠加显示得到余辉频谱图，对每帧频谱概率数据进行颜色映射的调整。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 创远信科(上海)技术股份有限公司 针对实时频谱测量实现余辉效应处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质

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