申请/专利权人：北京航空航天大学

申请日：2024-01-10

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890400A

主分类号：G01N23/20008

分类号：G01N23/20008;G01N23/203;G01N23/20058;G01N1/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本发明涉及一种基于单矿物配置的模拟月壤制备方法，属于月球原位资源利用的技术领域，解决了现有技术中各晶体成分和含量表征不准确，全岩模拟法配置模拟月壤与真实月壤成分误差大的问题。本发明的方法步骤为：步骤1：从月球采集的月壤中选取月壤样品；步骤2：制备月壤树脂光片样品；步骤3：对月壤树脂光片样品进行物相确定获得月壤薄片样品；步骤4：对月壤树脂光片样品的截面进行晶体结构分析统计；步骤5：对月壤光片样品进行FIB减薄；步骤6：对月壤晶体结构进行三维重构；步骤7：确定月壤的各矿物成分质量分数；步骤8：根据步骤7获得的月壤的各矿物成分质量分数选取模拟月壤原料；步骤9：配置模拟月壤。

主权项：1.一种基于单矿物配置的模拟月壤制备方法，其特征在于，具体步骤如下：步骤1：从月球采集的月壤中选取月壤样品；步骤2：制备月壤树脂光片样品；步骤3：对月壤树脂光片样品进行物相确定获得月壤薄片样品；步骤4：对月壤树脂光片样品的截面进行晶体结构分析统计；利用电子背散射衍射结合步骤3中得到的月壤薄片样品中各矿物晶体结构信息，对月壤光片截面进行识别，获得月壤薄片样品第i次减薄后月壤薄片样品的截面上每一位置的矿物晶体类型和分布面积Si,j，j＝1,2,…,J，J表示第i次减薄后月壤薄片样品的截面上的矿物的总类数；步骤5：对月壤光片样品进行FIB减薄；判断减薄后的月壤树脂光片样品的剩余厚度是否满足下一次FIB减薄，如果满足，减薄次数i加1，使用聚焦离子束对月壤光片样品进行第i次减薄，返回步骤4；如果不满足，进入步骤6；步骤6：对月壤晶体结构进行三维重构；获得月壤薄片样品各次减薄后月壤薄片样品的截面上的矿物晶体类型和分布规律，将所有截面的晶体类型和分布规律进行三维重构，获得空间维度下月壤样品的关于晶体类型和三维分布规律的各矿物晶体组分的体积Vj，表达式为： 其中，Vj表示第j种矿物的体积；Si,j表示第i次减薄后月壤薄片样品的截面上第j种矿物晶体类型的分布面积；△h为每次减薄的厚度；i＝1,2,…,I，I表示减薄总次数，j＝1,2,…,J，J表示第i次减薄后月壤薄片样品的截面上的矿物的总类数；步骤7：确定月壤的各矿物成分质量分数；步骤8：根据步骤7获得的月壤的各矿物成分质量分数选取模拟月壤原料；步骤9：配置模拟月壤。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京航空航天大学 一种基于单矿物配置的模拟月壤制备方法

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