申请/专利权人：北京理工大学

申请日：2023-12-06

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890322A

主分类号：G01N21/3586

分类号：G01N21/3586

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本发明涉及材料检测领域，提供了基于太赫兹时域光谱技术的含能材料定量检测方法。该方法包括：将待测含能材料与稀释材料进行混合、压片，得到混合压片样品；采用太赫兹时域光谱系统对混合压片样品进行检测，得到太赫兹吸收光谱；对太赫兹吸收光谱进行特征提取与分析，以确定混合压片样品中的待测含能材料的太赫兹特征吸收峰强度；根据预先建立好的待测含能材料的太赫兹特征吸收峰强度与含量之间的定量分析模型，以及待测含能材料的太赫兹特征吸收峰强度，确定混合压片样品中的待测含能材料的含量。本发明可实现使用THz‑TDS技术对含能材料如爆炸物等进行简单、快速、准确、安全的定量检测。

主权项：1.一种基于太赫兹时域光谱技术的含能材料定量检测方法，其特征在于，包括：将待测含能材料与稀释材料进行混合、压片，得到混合压片样品；采用太赫兹时域光谱系统对所述混合压片样品进行检测，得到太赫兹吸收光谱；对所述太赫兹吸收光谱进行特征提取与分析，以确定所述混合压片样品中的待测含能材料的太赫兹特征吸收峰强度；根据预先建立好的待测含能材料的太赫兹特征吸收峰强度与含量之间的定量分析模型，以及所述待测含能材料的太赫兹特征吸收峰强度，确定所述混合压片样品中的待测含能材料的含量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京理工大学 基于太赫兹时域光谱技术的含能材料定量检测方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD