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【发明授权】基于多批次小样本航天产品的缺陷率指标修正方法_北京京航计算通讯研究所_202310796861.4 

申请/专利权人:北京京航计算通讯研究所

申请日:2023-06-30

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN116777292B

主分类号:G06Q10/0639

分类号:G06Q10/0639;G06F18/22;G06F18/23213;G06F17/18

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权;2023.10.10#实质审查的生效;2023.09.19#公开

摘要:本发明涉及一种基于多批次小样本航天产品的缺陷率指标修正方法,包括:步骤S1、获取多批次小样本航天产品的质量缺陷率数据;从中提取出每一批质量数据的有效特征;使质量数据的有效特征能够归一化到百万量级产品条件下;步骤S2、基于所述质量数据的有效特征构建出质量数据相似度度量参数;步骤S3、基于质量数据的有效特征和质量数据相似度度量参数,进行缺陷率指标修正;得到符合百万量级产品条件下的质量缺陷率数据。本发明解决了定位产品型号过程中的薄弱环节和缺陷,发现和解决系统质量隐患,支撑产品改进,降低损失。

主权项:1.一种基于多批次小样本航天产品的缺陷率指标修正方法,其特征在于,包括:步骤S1、获取多批次小样本的航天产品的质量缺陷率数据;从中提取出每一批质量数据的有效特征;使质量数据的有效特征能够归一化到百万量级产品条件下;步骤S2、基于所述质量数据的有效特征构建出质量数据相似度度量参数;步骤S3、基于质量数据的有效特征和质量数据相似度度量参数,进行缺陷率指标修正;得到符合百万量级产品条件下的质量缺陷率数据;在步骤S1中,采用基于KL散度正则化的变分自编码器对输入的N批次小样本的航天产品的质量数据进行提取;通过提取得到质量数据的有效特征其中,m维向量xl为第l批的质量数据的有效特征;在步骤S2中,通过对变分自编码器输出的质量数据的有效特征使用k-means方法进行聚类;基于聚类结果和质量数据的有效特征在特征空间中的距离度量,构建出质量数据相似度度量参数;通过计算不同的两批次的质量数据的有效特征属于相同聚类的概率以及有效特征的差异性距离度量,构建出两批次的质量数据的相似度度量参数;在步骤S3中,对于l批质量数据进行缺陷率指标修正后,得到符合百万量级产品条件下缺陷率指标为: 式中,xl为l批质量数据的有效特征,slk为l批质量数据和k批质量数据相似度度量参数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京京航计算通讯研究所 基于多批次小样本航天产品的缺陷率指标修正方法

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