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【发明授权】缺血半暗带的识别方法、设备、电子装置和存储介质_武汉中科医疗科技工业技术研究院有限公司_202111145536.9 

申请/专利权人:武汉中科医疗科技工业技术研究院有限公司

申请日:2021-09-28

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN113876345B

主分类号:A61B6/03

分类号:A61B6/03;A61B5/055;A61B5/00;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187;G06T5/30;G06T7/62;G06T7/73

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权;2022.01.21#实质审查的生效;2022.01.04#公开

摘要:本申请涉及一种缺血半暗带的识别方法、设备、电子装置和存储介质,其中,该缺血半暗带的识别方法包括:基于灌注图像,获取患者脑部的缺血区参数图和梗死区参数图,对缺血区参数图和梗死区参数图进行假阳性去除,得到缺血区掩模和梗死区掩模,根据缺血区掩模和梗死区掩模,确定患者脑部的缺血半暗带。通过本申请,解决了相关技术中基于阈值分割得到的缺血半暗带的准确率较低的问题,提高了对缺血半暗带进行识别的准确率。

主权项:1.一种缺血半暗带的识别方法,其特征在于,包括:基于灌注图像,获取患者脑部的缺血区参数图和梗死区参数图;对所述缺血区参数图和所述梗死区参数图进行假阳性去除,得到缺血区掩模和梗死区掩模;根据所述缺血区掩模和所述梗死区掩模,确定所述患者脑部的缺血半暗带;所述对所述缺血区参数图和所述梗死区参数图进行假阳性去除,得到缺血区掩模和梗死区掩模包括:在所述缺血区参数图中,根据与预设的第一感兴趣区域对应的掩模和或阈值进行假阳性去除,得到所述缺血区掩模;在所述梗死区参数图中,去除所述缺血区掩模之外的区域,得到所述梗死区参数图的校正图;在所述梗死区参数图的校正图中,根据与预设的第二感兴趣区域对应的掩模和或阈值进行假阳性去除,得到所述梗死区掩模。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 武汉中科医疗科技工业技术研究院有限公司 缺血半暗带的识别方法、设备、电子装置和存储介质

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