申请/专利权人：浜松光子学株式会社

申请日：2019-12-20

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN113396317B

主分类号：G01J3/36

分类号：G01J3/36

优先权：["20190121 JP 2019-007632"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2021.10.01#实质审查的生效;2021.09.14#公开

摘要：本发明的分光测定装置1具备光学系统10、光检测器20及解析部30。光学系统10将来自对象物S的被测定光朝光检测器20的受光面引导，且在光检测器20的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器20具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器20通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器20通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此，可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。

主权项：1.一种分光测定装置，其中，具备：光学系统，其将被测定光分光而形成分光像；光检测器，其具有在多行分别排列有多个像素的受光面，在所述受光面上形成在所述多行各自的像素排列方向上具有波长轴的所述分光像，且通过在所述受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第1曝光时间受光所述分光像并输出所述被测定光的第1光谱数据，且通过在所述受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第2曝光时间受光所述分光像并输出所述被测定光的第2光谱数据；及解析部，其基于所述第1光谱数据及所述第2光谱数据而求得所述被测定光的光谱，所述第2曝光时间比所述第1曝光时间长，所述光检测器的所述受光面以形成的所述分光像的对称轴为界，区分为所述第1区域和所述第2区域，所述解析部在将所述光谱的波长带区分为包含所述第2光谱数据中的值为饱和水平以上的波长带的饱和波长带、和该饱和波长带以外的非饱和波长带时，基于所述第1光谱数据中的所述饱和波长带的第1部分光谱数据、和所述第2光谱数据中的所述非饱和波长带的第2部分光谱数据，求得所述被测定光的光谱。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 浜松光子学株式会社 分光测定装置及分光测定方法

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