买专利,只认龙图腾
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

【发明授权】一种试样表面微环境因素监测装置及监测方法_中国兵器装备集团西南技术工程研究所_202210398931.6 

申请/专利权人:中国兵器装备集团西南技术工程研究所

申请日:2022-04-16

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN114646268B

主分类号:G01B11/06

分类号:G01B11/06;G01J5/48;G01N23/02;G01N17/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权;2022.07.08#实质审查的生效;2022.06.21#公开

摘要:本发明提供了试样表面微环境因素监测装置及监测方法,包括样品台、支架,在支架上设置检测试样被测表面特定元素含量的X射线发射器、探测器,以及用于检测试样被测表面液膜厚度的光纤传感器,光纤传感器、与X射线发射器、探测器三者交汇于试样被测表面的同一点;监测方法步骤包括:获取目标位置坐标,控制光纤传感器的轴线、X射线发射器轴线、探测器轴线三者交汇于该目标位置,获取目标位置的温度Ts、氯元素含量和液膜厚度,并输出监测结果。本发明可自动、快速、高效的监测材料表面温度、液膜厚度、表面元素含量,并可实时监测产品表面微环境因素的变化,监测结果稳定可靠,有利于为腐蚀环境数据的精准观测提供可靠依据。

主权项:1.一种试样表面微环境因素监测装置,包括样品台(1)和放置在样品台(1)上的试样(2),试样(2)被测表面为平面,在样品台(1)附近设置有主支架(3)和副支架(4),在副支架(4)上设置有用于检测试样(2)被测表面特定元素含量的X射线发射器(5)及其与之配套的探测器(6),X射线发射器(5)与探测器(6)对称布置,其特征在于:在副支架(4)上设置有用于检测试样(2)被测表面液膜厚度的光纤传感器(7),光纤传感器(7)的轴线垂直于试样(2)被测表面并与X射线发射器(5)轴线、探测器(6)轴线三者交汇于试样(2)被测表面的同一点;所述试样(2)包括多根竖向靠近排列的杆式温度传感器(21),所有杆式温度传感器(21)穿设并固定在限位板(22)上,所有杆式温度传感器(21)顶端位于同一平面,所有杆式温度传感器(21)顶部外围设有粘接层(23),由粘接层(23)顶面和所有杆式温度传感器(21)前端共同构成试样(2)被测表面为平面。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所 一种试样表面微环境因素监测装置及监测方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。