申请/专利权人：英飞凌科技股份有限公司

申请日：2023-10-18

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117914316A

主分类号：H03M1/10

分类号：H03M1/10;H03M1/46

优先权：["20221019 US 18/047,896"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.19#公开

摘要：本申请涉及用于SARADC的校准系统和方法。根据一个实施例，一种用于操作包括第一电容器阵列的逐次逼近ADC的方法包括测量ADC的第a‑MSB位的第一权重；随后，逐次逼近与第a‑MSB位相对应的电容器的电容的权重，其中上述测量包括将第一参考电压施加到与第a‑MSB位相对应的第一电容器阵列的电容器的第一端子，将第二参考电压施加到与低于第a‑MSB位的有效位相对应的第一电容器阵列的电容器的第一端子，将第一参考电压施加到与高于第a‑MSB位的有效位相对应的第一电容阵列的第一组电容器的第一端子，以及将第二参考电压施加到与高于第a‑MSB位的有效位相对应的第一电容器阵列的第二组电容器的第一端子。

主权项：1.一种用于操作包括第一电容器阵列的逐次逼近ADC的方法，所述方法包括：测量所述ADC的第a-MSB位的第一权重，包括：执行第一采样操作，所述第一采样操作包括：将第一参考电压施加到与所述第a-MSB位相对应的所述第一电容器阵列的电容器的第一端子，将第二参考电压施加到与低于所述第a-MSB位的有效位相对应的所述第一电容器阵列的电容器的第一端子，将所述第一参考电压施加到与高于所述第a-MSB位的有效位相对应的所述第一电容器阵列的第一组电容器的第一端子，以及将所述第二参考电压施加到与高于所述第a-MSB位的有效位相对应的所述第一电容器阵列的第二组电容器的第一端子；以及在执行所述第一采样操作之后，逐次逼近与所述第a-MSB位相对应的所述电容器的电容的权重。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 英飞凌科技股份有限公司 用于SAR ADC的校准系统和方法

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