申请/专利权人：乐凯光电材料有限公司

申请日：2023-12-26

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117929399A

主分类号：G01N21/91

分类号：G01N21/91

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要：本发明涉及光学薄膜领域，尤其涉及一种光学薄膜瑕疵识别方法及其应用。光学薄膜瑕疵识别方法，步骤包括以下几步：S1：瑕疵区域的识别确认，确定反光线位置；S2：薄膜双表面的有色染料浸润；S3：观察有色染料浸润后的薄膜双表面的反光线变化，对比确认瑕疵所在表面。本申请中提供的一种光学薄膜瑕疵识别方法，其能够简单有效的识别光学薄膜中瑕疵所在的面，方法简便高效，时间和人工成本低，降低企业排查成本。

主权项：1.一种光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：步骤包括以下几步：S1：瑕疵区域的识别确认，确定反光线位置；S2：薄膜双表面的有色染料浸润；S3：观察有色染料浸润后的薄膜双表面的反光线变化，对比确认瑕疵所在表面。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 乐凯光电材料有限公司 一种光学薄膜瑕疵识别方法及其应用

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