申请/专利权人：华中科技大学

申请日：2024-01-25

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117928428A

主分类号：G01B11/25

分类号：G01B11/25

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要：本发明提供一种三维表面形貌测量方法及系统，所述方法包括：将预设的一组相移条纹图案的结构光依次投射到垂直扫描的待测物体表面，以获取一组携带物体高度信息的捕获图像；通过提取一组捕获图像中任一像素位置的强度值，获得所述任一像素位置在垂直扫描过程中的强度曲线；根据每个像素位置在垂直扫描过程中的强度曲线，获取对应的每个像素位置的包络曲线；将所有的包络曲线中的其中一个作为参考包络曲线，其它的包络曲线作为匹配包络曲线，将所述参考包络曲线与每个匹配包络曲线进行包络匹配，确定出对应的各像素位置的相对高度信息。本发明提供的三维表面形貌测量方法及系统，相较于现有技术具有测量效率高、测量精度高的优势。

主权项：1.一种三维表面形貌测量方法，其特征在于，包括：将预设的一组相移条纹图案的结构光依次投射到垂直扫描的待测物体表面，以获取一组携带物体高度信息的捕获图像；其中，在垂直扫描过程中，物体的垂直扫描与相移条纹图案的切换同步，并且在每个垂直扫描位置对应一个相移条纹图案；通过提取一组捕获图像中任一像素位置的强度值，获得所述任一像素位置在垂直扫描过程中的强度曲线；根据每个像素位置在垂直扫描过程中的强度曲线，获取对应的每个像素位置的包络曲线；将所有的包络曲线中的其中一个作为参考包络曲线，其它的包络曲线作为匹配包络曲线，将所述参考包络曲线与每个匹配包络曲线进行包络匹配，确定出对应的各像素位置的相对高度信息。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华中科技大学 一种三维表面形貌测量方法及系统

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