申请/专利权人：上海燧原科技有限公司

申请日：2020-08-21

公开（公告）日：2020-10-23

公开（公告）号：CN111816241A

主分类号：G11C29/18(20060101)

分类号：G11C29/18(20060101);G11C29/00(20060101);G11C29/44(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.12.11#授权;2020.11.10#实质审查的生效;2020.10.23#公开

摘要：本发明实施例公开了一种片上系统的存储器及其测试方法。所述存储器包括：多个物理存储单元；多个第一逻辑映射单元，每个所述第一逻辑映射单元与至少两个所述物理存储单元电连接；第二逻辑映射单元，所述第二逻辑映射单元与所述第一逻辑映射单元电连接；测试逻辑单元，所述测试逻辑单元与所述第二逻辑映射单元电连接，用于通过所述第二逻辑映射单元及所述第一逻辑映射单元对所述物理存储单元进行测试；所述片上系统的功能电路复用为所述第一逻辑映射单元，所述功能电路还用于在对所述物理存储单元测试以外时工作。本发明实施例的存储器中由第一逻辑映射单元、第二逻辑映射单元以及测试逻辑单元组成的测试逻辑具有面积小等优势。

主权项：1.一种片上系统的存储器，其特征在于，所述存储器包括：多个物理存储单元；多个第一逻辑映射单元，每个所述第一逻辑映射单元与至少两个所述物理存储单元电连接；第二逻辑映射单元，所述第二逻辑映射单元与所述第一逻辑映射单元电连接；测试逻辑单元，所述测试逻辑单元与所述第二逻辑映射单元电连接，用于通过所述第二逻辑映射单元及所述第一逻辑映射单元对所述物理存储单元进行测试；所述片上系统的功能电路复用为所述第一逻辑映射单元，所述功能电路还用于在对所述物理存储单元测试以外时工作。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海燧原科技有限公司 存储器及其测试方法

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