申请/专利权人：日本电子株式会社

申请日：2020-07-06

公开（公告）日：2021-01-12

公开（公告）号：CN112213507A

主分类号：G01N35/04(20060101)

分类号：G01N35/04(20060101)

优先权：["20190711 JP 2019-129018"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.01.29#实质审查的生效;2021.01.12#公开

摘要：提供能够减少搅拌棒上的污垢粘附的自动分析装置。自动分析装置100包含：搅拌部140，其具备搅拌棒142；清洗部146，其进行搅拌棒142的清洗；以及控制部，其控制搅拌部140和清洗部146，控制部进行：第1处理，当在第1周期之后的第2周期中使搅拌部140进行包含检体的液体141的搅拌的情况下，将在第2周期中对搅拌棒142进行清洗的范围设为清洗范围R2；以及第2处理，当在第2周期中不使搅拌部140进行液体的搅拌的情况下，将在第1周期和第2周期之中的至少一个周期中对搅拌棒142进行清洗的范围设为比清洗范围R2大的清洗范围R4。

主权项：1.一种自动分析装置，其特征在于，包含：搅拌部，其具备搅拌棒；清洗部，其进行上述搅拌棒的清洗；以及控制部，其控制上述搅拌部和上述清洗部，上述控制部进行：第1处理，当在第1周期之后的第2周期中使上述搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下，将在上述第2周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为第1范围；以及第2处理，当在上述第2周期中不使上述搅拌部进行上述液体的搅拌的情况下，将在上述第1周期和上述第2周期之中的至少一个周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为比上述第1范围大的第2范围。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 日本电子株式会社 自动分析装置和自动分析装置的控制方法

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