【发明公布】用于行动内存的测试装置以及测试方法_润昇系统测试(深圳)有限公司_202011230058.7 

申请/专利权人:润昇系统测试(深圳)有限公司

申请日:2020-11-06

发明/设计人:张磊;陈世兴;颜振亮;罗文良;姜文贵

公开(公告)日:2021-02-19

代理机构:广州华进联合专利商标代理有限公司

公开(公告)号:CN112382334A

代理人:何冲

主分类号:G11C29/56(20060101)

地址:518101 广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区红牌工业园华丰智谷福海科技产业园B栋B116

分类号:G11C29/56(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2021.02.19#公开

摘要:本发明提供一种用于行动内存的内存测试装置以及内存测试方法。内存测试装置包括主机以及多个测试板。主机提供多个测试流程。所述多个待测内存芯片以一对一方式或多对一方式被对应设置在所述多个测试板上。各所述多个测试板包括至少一应用处理器。应用处理器分別一对一方式与对应待测内存芯片直接连接。被启动后的各所述多个测试板的应用处理器接收储存在对应测试板的所述多个测试流程的至少其中之一,并基于所述多个测试流程的至少其中之一对对应待测内存芯片进行测试。

主权项:1.一种内存测试装置,用以对多个待测内存芯片进行测试,其特征在于,所述内存测试装置包括:主机,经配置以提供多个测试流程;以及多个测试板,分别耦接于所述主机以接收所述多个测试流程并储存所述多个测试流程,其中所述多个待测内存芯片以一对一方式或多对一方式被对应设置在所述多个测试板上,其中各所述多个测试板包括:至少一应用处理器,分別以一对一方式与所述多个待测内存芯片中的对应待测内存芯片直接连接,其中所述至少一应用处理器是精简指令集ReducedInstructionSetComputer,RISC处理器,其中,被启动后的各所述多个测试板的所述至少一应用处理器接收储存在对应测试板上的所述多个测试流程的至少其中之一,并基于所述多个测试流程的至少其中之一,对所述对应待测内存芯片进行测试。

全文数据:

权利要求:

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