申请/专利权人:浙江驰拓科技有限公司
申请日:2019-12-05
公开(公告)日:2021-06-08
公开(公告)号:CN112927746A
主分类号:G11C29/08(20060101)
分类号:G11C29/08(20060101);G11C29/56(20060101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2023.04.25#授权;2021.06.25#实质审查的生效;2021.06.08#公开
摘要:本发明提供一种磁性存储器测试结构及测试方法,所述测试结构包括:一存储阵列,所述存储阵列按照预定规则分为多个区域,每个所述区域包括若干存储单元,每个所述区域的所有存储单元电学串联连接构成串联结构或者电学并联连接构成并联结构;每个所述区域的存储单元串联结构或者存储单元并联结构的两端分别连接有测试电极,用于输入激励源。本发明能够实现监控存储阵列不同区域的工艺均一性。
主权项:1.一种磁性存储器测试结构,其特征在于,包括:一存储阵列,所述存储阵列按照预定规则分为多个区域,每个所述区域包括若干存储单元,每个所述区域的所有存储单元电学串联连接构成串联结构或者电学并联连接构成并联结构;每个所述区域的存储单元串联结构或者存储单元并联结构的两端分别连接有测试电极,用于输入激励源。
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权利要求:
百度查询: 浙江驰拓科技有限公司 磁性存储器测试结构及测试方法
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