申请/专利权人：欧姆龙株式会社

申请日：2019-02-06

公开（公告）日：2021-09-21

公开（公告）号：CN111566440B

主分类号：G01B11/25(20060101)

分类号：G01B11/25(20060101)

优先权：["20180214 JP 2018-023606"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.09.21#授权;2020.09.15#实质审查的生效;2020.08.21#公开

摘要：本发明提供一种三维测定装置、三维测定方法以及三维测定存储介质，可提高针对拍摄条件变动的稳健性，并且以更高分辨率测定对象物的三维形状。三维测定装置包括：投光部，向对象物投射将数据进行编码而成的图案；摄像部，拍摄经投射图案的对象物的图像；以及算出部，基于特征点的位置及经解码的数据来算出三维点群的位置，图案包含多个至少表示二位且用于算出三维点群的位置的单位图案，单位图案包含第一区域、及面积大于第一区域的第二区域，第一区域与第二区域的面积比为0.3以上且0.9以下。

主权项：1.一种三维测定装置，其特征在于，包括：投光部，向对象物投射通过二维结构将数据进行编码而成的图案；摄像部，拍摄经投射所述图案的所述对象物的图像；以及算出部，提取所述图案的特征点，基于所述图像中的所述特征点的位置及经解码的所述数据，算出表示所述对象物的三维形状的、三维点群的位置，所述图案包含多个最小单位的单位图案，所述最小单位的单位图案至少表示二位，含有所述特征点，用于算出所述三维点群的位置，所述单位图案包含第一区域、及与所述第一区域相区分且面积大于所述第一区域的第二区域，所述第一区域的面积除以所述第二区域的面积所得的面积比为0.3以上且0.9以下。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 欧姆龙株式会社 三维测定装置、三维测定方法以及三维测定存储介质

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