申请/专利权人：上海工程技术大学

申请日：2021-08-02

公开（公告）日：2021-11-19

公开（公告）号：CN113674227A

主分类号：G06T7/00(20170101)

分类号：G06T7/00(20170101);G06T7/66(20170101);G06T7/13(20170101);G06T7/143(20170101);G01B21/16(20060101);G01B21/04(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.08.08#授权;2021.12.07#实质审查的生效;2021.11.19#公开

摘要：本发明属于航空设备的技术领域，公开了一种用于离子推力器栅极组件的层间距检测方法，包括步骤一、获得待检栅极组件的点云数据，包括上栅极和下栅极的上层球面；步骤二、采用改进的RANSAC算法计算上栅极和下栅极上层球面中各个球孔边缘的点云数据；步骤三、利用牛顿‑高斯迭代法对各个球孔周围的点云数据进行处理，获取对应球心坐标；步骤四、根据上栅极和下栅极的上层球面中各个球孔对应的球心坐标，计算层间距。本发明的检测方法不会对工件本身造成损伤，保证了栅极件装配质量检测的精密性和准确性，同时减小质量检测的误差。

主权项：1.一种用于离子推力器栅极组件的层间距检测方法，其特征在于包括以下步骤：步骤一、获得待检栅极组件的点云数据，包括上栅极和下栅极的上层球面；步骤二、采用改进的RANSAC算法计算上层球面中各个球孔边缘的点云数据；步骤三、利用牛顿-高斯迭代法对各个球孔周围的点云数据进行处理，获取对应球心坐标；步骤四、根据上栅极和下栅极的上层球面中各个球孔对应的球心坐标，减去上栅极的厚度，计算层间距。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海工程技术大学 一种用于离子推力器栅极组件的层间距检测方法

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