申请/专利权人：凯磁科技(宁波)有限公司

申请日：2022-06-28

公开（公告）日：2022-09-20

公开（公告）号：CN217465748U

主分类号：G01B21/02

分类号：G01B21/02;G01B21/16

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.09.20#授权

摘要：本实用新型公开了一种位移传感器校验工装，包括测量环和量柱，测量环的顶部为基准面，位移传感器安装在基准面上，量柱包括测量柱和配合柱，测量柱和配合柱同轴设置，配合柱的外径与位移传感器的内径相同，测量环上轴向开设有基准孔，基准孔的内径与配合柱的外径相同，配合柱配合安装在基准孔。本实用新型的有益效果是：该位移传感器校验工装保证了位移传感器的内孔与量柱的同轴设置，从而保证了校验的准确性。

主权项：1.一种位移传感器校验工装，其特征在于：包括测量环和量柱，所述测量环的顶部为基准面，位移传感器安装在所述基准面上，所述量柱包括测量柱和配合柱，所述测量柱和所述配合柱同轴设置，所述配合柱的外径与所述位移传感器的内径相同，所述测量环上轴向开设有基准孔，所述基准孔的内径与所述配合柱的外径相同，所述配合柱配合安装在所述基准孔内。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 凯磁科技(宁波)有限公司 一种位移传感器校验工装

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