申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司

申请日：2022-06-13

公开（公告）日：2022-09-23

公开（公告）号：CN115097227A

主分类号：G01R29/26

分类号：G01R29/26;G01R31/40;G01R1/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.10.14#实质审查的生效;2022.09.23#公开

摘要：本公开涉及集成电路技术领域，公开一种测试设备及电源噪声测试方法。该测试设备用于测量内存芯片的电源噪声，所述测试设备包括：噪音生成模块，所述噪音生成模块的负载电流随预设的电流曲线进行变化；信号传输模块，连接于所述噪音生成模块和主板之间，所述信号传输模块具有与内存封装结构相匹配的电气参数。本公开提供的测试设备不依赖于内存的生产，在内存芯片的设计阶段即可根据内存芯片的设计参数对内存芯片的电源噪声进行提前测量，通过该测试设备可以模拟内存芯片在实际运行时所产生的电源噪声来判断内存芯片是否会存在风险，该测量结果可以用于指导内存芯片的制造，从而可以提高内存芯片的良品率。

主权项：1.一种测试设备，其特征在于，用于获取内存芯片的电源噪声，所述测试设备包括：噪音生成模块，所述噪音生成模块的负载电流随预设的电流曲线进行变化；信号传输模块，连接于所述噪音生成模块和主板之间，所述信号传输模块具有与内存封装结构相匹配的电气参数；电压获取模块，连接于所述信号传输模块与所述噪音生成模块的连接处，所述电压获取模块用于在所述噪音生成模块的负载电流变化时获取所述连接处的电压信号，所述电压信号用于确定所述内存芯片的电源噪声。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长鑫存储技术有限公司 一种测试设备及电源噪声测试方法

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