申请/专利权人：中核(天津)科技发展有限公司

申请日：2021-05-25

公开（公告）日：2022-11-25

公开（公告）号：CN115388821A

主分类号：G01B21/00

分类号：G01B21/00;G01K7/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.12.13#实质审查的生效;2022.11.25#公开

摘要：本发明公开了一种非标测量温度补偿方法，包括以下步骤：步骤1，标定温度补偿系数；步骤2，进行三级温补：S1，监测设备温度变化，计算检测设备本体的补偿值δ设备；S2，将置零标件放置在所述检测设备本体的检测位上，调整尺寸检测传感器位置，当其接触到置零标件时，尺寸检测传感器置零，温度传感器监测置零标件温度变化，计算置零标件的补偿值δ标件；S3，取下置零标件，将被测工件置于所述检测设备本体的检测位上，尺寸检测传感器检测被测工件的尺寸L实测，计算被测工件的补偿值δ工件；步骤3，对被测工件测量尺寸进行补偿，L补后＝L实测+δ设备+δ标件+δ工件，其中，L补后是被测工件的补偿后得到的尺寸。本发明可提高测量精度。

主权项：1.一种非标测量温度补偿方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，标定温度补偿系数：在常规室温18～30℃范围内，对检测设备本体、置零标件和被测工件的尺寸变化进行监测，分别计算温度膨胀系数，拟合补偿函数，并在软件系统中生成补偿曲线；步骤2，进行三级温补：S1，监测设备温度变化，当两支监测所述检测设备本体的温度传感器所监测到的温度差值小于2℃时，依据步骤1的补偿曲线，对检测设备本体进行温补，得到检测设备本体的理论测量环境20℃下的补偿值δ设备；S2，将置零标件放置在所述检测设备本体的检测位上，调整尺寸检测传感器位置，当其接触到置零标件时，尺寸检测传感器置零，温度传感器监测置零标件温度变化，当两支监测所述置零标件的温度传感器所监测到的温度差值小于2℃时，依据步骤1的补偿曲线，对置零标件进行温补，得到置零标件的理论测量环境20℃下的补偿值δ标件；S3，取下置零标件，将被测工件置于所述检测设备本体的检测位上，尺寸检测传感器检测被测工件的尺寸L实测，温度传感器监测被测工件温度变化，当两支监测所述被测工件的温度变化的温度传感器，所监测到的温度差值小于2℃时，依据步骤1的补偿曲线，对被测工件进行温补，得到被测工件的理论测量环境20℃下的补偿值δ工件；步骤3，对被测工件测量尺寸进行补偿，L补后＝L实测+δ设备+δ标件+δ工件，其中，L补后是被测工件的补偿后得到的尺寸。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中核(天津)科技发展有限公司 一种非标测量补偿方法

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