申请/专利权人：眸芯科技(上海)有限公司

申请日：2019-06-25

公开（公告）日：2022-12-02

公开（公告）号：CN110619137B

主分类号：G06F30/3312

分类号：G06F30/3312;G06F30/39

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.12.02#授权;2020.01.21#实质审查的生效;2019.12.27#公开

摘要：本发明公开了针对电压降的时序分析方法及应用，涉及集成电路设计技术领域。所方法包括步骤：设置第一电压降阈值和第二电压降阈值；功耗分析工具根据后仿仿真波形获取电压降违例点，判断该电压降违例点的电压降是否位于第一电压降阈值和第二电压降阈值之间；判定为是时，基于预设的电压降查找表查询得到单元库在不同状态角下的OCV值，然后计算电压降引起的每个单元的延迟变化值value；将每一个value值反标到时序分析工具中并进行STA分析，判断是否出现的新的时序违例，出现新的时序违例时进行物理修复，否则结束。本发明能大幅减少需要物理修复的点，能显著减少迭代次数，快速达到验收标准。

主权项：1.一种针对电压降的时序分析方法，其特征在于包括步骤：设置第一电压降阈值和第二电压降阈值；所述第一电压降阈值基于预设签收标准设置，所述第二电压降阈值大于第一电压降阈值；采集后仿仿真波形信息，功耗分析工具根据后仿仿真波形获取电压降违例点，判断该电压降违例点的电压降是否位于第一电压降阈值和第二电压降阈值之间；判定为是时，基于预设的电压降查找表查询得到单元库在不同状态角下的OCV值，获取第二电压降阈值的OCV值与第一电压降阈值的OCV值的OCV差值delta_ocv，然后计算电压降引起的每个单元的延迟变化值value，value＝cell_delay*delta_ocv+guardband％，式中，所述cell_delay为对应单元原来的延迟值，所述delta_ocv为前述OCV差值，所述guardband为过保护预留OCV值；将每一个value值反标到时序分析工具中并进行STA分析，判断是否出现的新的时序违例，出现新的时序违例时进行物理修复，否则结束。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 眸芯科技(上海)有限公司 针对电压降的时序分析方法及应用

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