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【发明公布】多参数质量特性测量方法_北京航天计量测试技术研究所_202310057513.5 

申请/专利权人:北京航天计量测试技术研究所

申请日:2023-01-13

公开(公告)日:2023-05-26

公开(公告)号:CN116164882A

主分类号:G01M1/10

分类号:G01M1/10;G01M1/12;G01G1/42

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.06.13#实质审查的生效;2023.05.26#公开

摘要:本发明提供一种多参数质量特性测量方法,在测量平台上安装被测产品后,按本发明测量方法的步骤能够有序进行质量质心、转动惯量以及形心的测量,测量过程中,只需调整被测产品的姿态即可,能够有效提高测量效率。本发明的测量顺序为:首先进行质量、Y向质心和Z向质心测量,然后进行形心测量,然后进行X向转动惯量测量、X向质心测量、Y向转动惯量测量、Z向转动惯量测量。在进行形心测量时,采用被测产品轴向多个截面的形心点的确定,从而拟合被测产品形心轴的方法进行,测量精度高。

主权项:1.多参数质量特性测量方法,其特征在于:定义被测产品的轴向为X向,当被测产品轴向沿竖直方向时,水平方向为Z向,水平面内与Z向垂直的方向为Y向,建立右手直角坐标系;所述被测产品安装在测量平台上,初始时,被测产品轴向沿竖直方向;S1:质量、Y向质心和Z向质心测量:通过称重单元顶升测量平台,称重单元利用三点称重法进行所述被测产品质量、Y向质心和Z向质心的测量;S2:形心测量:沿被测产品高度方向间隔布置多个测量端水平朝向被测产品的激光位移传感器,被测产品沿自身轴线转动,各激光位移传感器同步采集被测产品对应截面处的位移信号;S3:X向转动惯量测量:降下称重单元,使测量平台落在扭摆机构上,扭摆机构带动测量平台往复扭摆,光电周期测量单元进行扭摆周期的测量;S4:X向质心测量:调整所述被测产品的姿态,使被测产品的Y向沿竖直方向;降下测量平台顶升机构,利用称重单元顶升测量平台,称重单元利用三点称重法进行X向质心的测量;S5:Y向转动惯量测量:降下称重单元,使测量平台落在扭摆机构上,通过扭摆机构带动测量平台往复扭摆,光电周期测量单元进行扭摆周期的测量;S6:Z向转动惯量测量:被测产品自旋180°,使被测产品的Z向沿竖直方向;然后降下测量平台顶升机构,使测量平台落在扭摆机构上,通过扭摆机构带动测量平台往复扭摆,光电周期测量单元进行扭摆周期的测量;上述测量过程中,每完成一次转动惯量的测量,对测量平台进行制动;测量平台制动后,启动测量平台顶升机构顶升测量平台,使测量平台离开所述扭摆机构。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京航天计量测试技术研究所 多参数质量特性测量方法

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