申请/专利权人：苏州萨沙迈半导体有限公司;上海萨沙迈半导体有限公司;天津智芯半导体科技有限公司;合肥智芯半导体有限公司

申请日：2023-03-08

公开（公告）日：2023-05-26

公开（公告）号：CN115881204B

主分类号：G11C29/14

分类号：G11C29/14;G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.05.26#授权;2023.04.18#实质审查的生效;2023.03.31#公开

摘要：本发明公开了一种测试模式复位电路、芯片，复位电路用于芯片测试，复位电路包括：通道选择子电路，用于接收测试模式信号，并根据测试模式信号从多组预设通道中选通一组目标通道，以及通过目标通道传输相应的序列，记为目标序列；复位子电路，复位子电路与通道选择子电路连接，并用以连接测试模式控制电路，复位子电路用于根据目标序列生成复位信号，并将复位信号输出至测试模式控制电路，以通过控制测试模式控制电路使芯片进入目标测试模式。本发明省去芯片测试过程中测试模式切换时需要进行的上电复位过程，有效降低测试时间，提高了在制定测试计划时引脚复用的灵活度，提高了测试并行度，降低测试成本。

主权项：1.一种测试模式复位电路，其特征在于，用于芯片测试，所述复位电路包括：通道选择子电路，用于接收测试模式信号，并根据所述测试模式信号从多组预设通道中选通一组目标通道，以及通过所述目标通道传输相应的序列，记为目标序列，其中，每组所述预设通道包括时钟通道、模式选择通道和数据输入通道，所述时钟通道用于传输时钟序列，所述模式选择通道用于传输使能序列，所述数据输入通道用于传输密码序列；复位子电路，所述复位子电路与所述通道选择子电路连接，并用以连接测试模式控制电路，所述复位子电路用于根据所述目标序列生成复位信号，并将所述复位信号输出至所述测试模式控制电路，以通过控制所述测试模式控制电路使所述芯片进入目标测试模式，其中，所述复位子电路包括：密码移位使能单元和密码判断单元，所述密码移位使能单元分别与所述通道选择子电路和所述密码判断单元连接，所述密码判断单元还与所述通道选择子电路连接；所述密码移位使能单元，用于基于所述时钟通道传输的时钟序列接收所述模式选择通道传输的使能序列，并根据所述使能序列对所述密码判断单元进行使能控制；所述密码判断单元，用于在使能后基于所述时钟序列接收所述数据输入通道传输的密码序列，并根据所述密码序列生成所述复位信号。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州萨沙迈半导体有限公司;上海萨沙迈半导体有限公司;天津智芯半导体科技有限公司;合肥智芯半导体有限公司 测试模式复位电路、芯片

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