申请/专利权人：北京紫光芯能科技有限公司

申请日：2023-11-02

公开（公告）日：2023-12-05

公开（公告）号：CN117172167A

主分类号：G06F30/33

分类号：G06F30/33

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.12.22#实质审查的生效;2023.12.05#公开

摘要：本申请公开了一种出错定位方法、装置、设备及介质，涉及芯片验证技术领域，该方法应用于待验证模块级芯片，包括：在将待验证模块级芯片的信号端口与目标系统级芯片的信号端口连接后，接收目标系统级芯片发送的目标信号，目标信号为对目标系统级芯片的初始信号进行延迟后的信号；根据目标信号，对待验证模块级芯片进行芯片验证；若验证结果表征待验证模块级芯片中出现通信出错情况，则在待验证模块级芯片中，根据出现通信出错情况的目标信号，进行出错定位。由此，如果待验证模块级芯片中出现目标信号的通信出错情况时，可以规避掉在系统级芯片中进行芯片验证的步骤，而只需要在待验证模块级芯片中进行芯片验证，从而提升定位出错原因的效率。

主权项：1.一种出错定位方法，其特征在于，应用于待验证模块级芯片，所述方法包括：在将所述待验证模块级芯片的信号端口与目标系统级芯片的信号端口连接后，接收所述目标系统级芯片发送的目标信号，所述目标信号为对所述目标系统级芯片的初始信号进行延迟后的信号；根据所述目标信号，对所述待验证模块级芯片进行芯片验证；若验证结果表征所述待验证模块级芯片中出现通信出错情况，则在所述待验证模块级芯片中，根据出现通信出错情况的所述目标信号，进行出错定位。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京紫光芯能科技有限公司 一种出错定位方法、装置、设备及介质

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