申请/专利权人：芯瑞微(上海)电子科技有限公司

申请日：2023-12-11

公开（公告）日：2024-03-01

公开（公告）号：CN117390935B

主分类号：G06F30/23

分类号：G06F30/23

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.01#授权;2024.01.30#实质审查的生效;2024.01.12#公开

摘要：本发明提出一种计算FDTD电磁仿真收敛检测触发时刻的方法，包括如下步骤：构建包含源端口与输出端口的三维仿真网格模型；计算源端口连通分支上每个端口与源端口之间的最小路径；取源端口连通分支上所有端口与源端口之间最小路径中的最大值d1；计算求解域尺寸d2，所述求解域尺寸为所述仿真网格模型中的最长距离；根据d1和d2求解首次收敛检测的时刻。本发明可以准确判断仿真是否真正收敛，且显著减少计算时间，提高仿真效率。

主权项：1.一种计算FDTD电磁仿真收敛检测触发时刻的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、构建包含源端口与输出端口的三维仿真网格模型；步骤S2、计算源端口连通分支上每个端口与源端口之间的最小路径；步骤S3、取源端口连通分支上所有端口与源端口之间最小路径中的最大值d1；步骤S4、计算求解域尺寸d2，所述求解域尺寸为所述仿真网格模型中的最长距离；步骤S5、根据d1和d2求解首次收敛检测的时刻；所述首次收敛检测的时刻n的计算公式为：n=max{d1，d2}CΔt；其中，C表示介质中的光速，Δt表示仿真中电磁波每一次迭代的时间步长。

全文数据：

权利要求：

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