申请/专利权人：中国科学院地质与地球物理研究所

申请日：2021-12-20

公开（公告）日：2024-03-12

公开（公告）号：CN114264846B

主分类号：G01Q90/00

分类号：G01Q90/00;G01N23/046;G01N1/28;G01N1/32

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.12#授权;2022.04.19#实质审查的生效;2022.04.01#公开

摘要：本发明公开了一种微细颗粒指定层位的离子探针样品靶制备方法，包括结合微米CT对样品颗粒内部结构的三维可视化分析，确定了目标分析对象所在层位，便于微小样品指定层位的样品靶制备。本发明减少了离子探针传统样靶的环氧树脂使用量，降低了样品靶的放气率，有利于提高样品分析腔的真空度；结合微米CT对样品颗粒内部结构的三维可视化分析，确定了目标分析对象所在层位，便于微小样品如，月壤颗粒等指定层位的样品靶制备；适用于微细样品单一颗粒的制备需求，便于微小样品的单独储存和离子探针分析。

主权项：1.一种微细颗粒指定层位的离子探针样品靶制备方法，其特征在于：A将待制备月壤颗粒粘贴在具有双面胶的玻璃板上得到所述样品；B将所述样品放置在预处理后的玻璃管并位于中央；所用玻璃管外径为3毫米，内径为2.5毫米，长5厘米，玻璃管使用前分别用去离子水和酒精超声3-5分钟，并在烘箱中烘干；C将调配好的环氧树脂注入玻璃管中，直到环氧树脂包埋月壤颗粒，注入树脂的高度一般到达1厘米；D对所述样品抽取真空，以固定样品位置和减少所述环氧树脂气泡得到玻璃管样品；E将制备的所述玻璃管样品放置在恒温为50℃条件下固化；F从玻璃板取下样品靶，利用慢速锯切割末端无样品部分，使样品靶具有合适的长度，一般不超过0.5厘米；G对所述玻璃管样品利用微米CT对月壤颗粒内部结构和组成进行三维可视化分析，选定目标矿物，然后测定分析目标距表面的深度；H抛磨样品，利用千分尺测量抛磨深度，并利用偏光显微镜及时观察抛出的颗粒表面，直至达到分析目标所处层位，且保证靶面平整，得到样品靶。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院地质与地球物理研究所 一种微细颗粒指定层位的离子探针样品靶制备方法

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