申请/专利权人：中国电子科技集团公司第五十五研究所

申请日：2023-12-18

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117723851A

主分类号：G01R29/26

分类号：G01R29/26;G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本发明公开了一种太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数测试系统，包括冷热源、太赫兹接收前端、天线、运动载台和总控制系统，所述运动载台用于搭载天线、待测样品和太赫兹接收前端，并使天线移动至冷源下方或者热源下方，冷热源分别提供冷源热源辐射，天线用于接收冷热源的辐射；太赫兹接收前端分别连接信号源和频谱仪，太赫兹接收前端用于对信号源输出的源信号进行倍频后与天线输出信号或者待测样品输出信号混频和滤波并输出至频谱仪，频谱仪用于测试其所接收到的系统功率；所述总控制系统用于控制运动载台移动、设定测试频率和参数、采集和处理频谱仪测得的系统功率数据，计算得到待测太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数。

主权项：1.一种太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数测试系统，其特征在于：包括冷热源、太赫兹接收前端、天线、运动载台和总控制系统，所述运动载台用于搭载天线、待测样品和太赫兹接收前端，并使天线移动至冷源下方或者热源下方，冷热源分别提供冷源热源辐射，天线用于接收冷热源的辐射；太赫兹接收前端分别连接信号源和频谱仪，太赫兹接收前端用于对信号源输出的源信号进行倍频后，与天线输出信号或者待测样品输出信号混频滤波并输出至频谱仪，频谱仪用于测试其所接收到的系统功率；所述总控制系统用于控制运动载台移动、设定测试频率和参数、采集和处理频谱仪测得的系统功率数据，计算得到待测太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第五十五研究所 太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数测试系统及测试方法

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