申请/专利权人：宁波知谱科技有限公司

申请日：2023-08-16

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117726660A

主分类号：G06T7/33

分类号：G06T7/33;G06V10/75;G06V10/46

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本发明涉及一种用于将光谱检测用的分光的滤光片阵列与传感器阵列的像素级对准的技术，属于光电检测技术领域。本发明提供的方法包括以下步骤：步骤1确定滤光片阵列与传感器阵列之间的相对位置和方向；步骤2采集滤光片阵列和传感器阵列的光谱图像数据，并提取其中的特征点；步骤3对滤光片阵列和传感器阵列的特征点进行匹配，以找出它们之间的对应关系；步骤4根据滤光片阵列和传感器阵列的特征点匹配结果，估计出它们之间的几何变换参数，并对图像进行配准。可以适应不同类型和规格的对准。

主权项：1.一种用于将光谱检测用的分光的滤光片阵列与传感器阵列的像素级配准的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤S1确定所述滤光片阵列与所述传感器阵列之间的相对位置和方向；步骤S2对于采集的所述滤光片阵列和所述传感器阵列的光谱图像数据，提取其中的特征点；步骤S3对所述滤光片阵列和所述传感器阵列的特征点进行匹配，以找出它们之间的对应关系；步骤S4根据所述滤光片阵列和所述传感器阵列的特征点匹配结果，估计出它们之间的几何变换参数，并对图像进行配准；其中在所述步骤2中，所述特征点的提取是通过使用图像处理算法来实现，所述图像处理算法可以从图像中检测出具有尺度和旋转不变性的特征点，并计算出它们的描述子，即一组能够表示特征点局部信息的向量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 宁波知谱科技有限公司 滤光片阵列与传感器阵列的封装配准方法

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