申请/专利权人：北京象帝先计算技术有限公司

申请日：2023-10-07

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117007947B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R31/3183

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2023.11.24#实质审查的生效;2023.11.07#公开

摘要：本公开涉及芯片测试技术领域，提供一种生成测试向量的方法、装置、电子设备及存储介质，旨在提高测试向量的生成效率。其中，生成测试向量的方法包括：接收对寄存器指令集的修改；其中，原始的寄存器指令集是根据待测电路的仿真波形生成的；再根据修改后的寄存器指令集生成测试向量，所述测试向量用于测试所述待测电路。本公开中，当需要生成新的测试向量时，只需要对已有的寄存器指令集进行修改，再根据修改后的寄存器指令集生成新的测试向量，而不需要重新生成仿真波形和根据新的仿真波形生成新的测试向量。本公开可以提高测试向量的生成效率，进而有利于缩短芯片测试周期。

主权项：1.一种生成测试向量的方法，所述方法包括：接收对寄存器指令集的修改；其中，原始的寄存器指令集是根据待测电路的仿真波形生成的；根据修改后的寄存器指令集生成测试向量，所述测试向量用于测试所述待测电路；所述寄存器指令集中包括M个寄存器指令，所述M个寄存器指令分为N个指令组，每个指令组中包括多个连续的寄存器指令，每个指令组对应一次操作；相同操作类型的多次操作对应的多个指令组之间，具有彼此相同的第一寄存器指令和不全部相同的第二寄存器指令；每种操作类型对应一种测试向量模板，每种测试向量模板中包括固定向量信息和填充槽位，所述固定向量信息对应于相应操作类型对应的第一寄存器指令，所述填充槽位用于填充指令相关信息，所述指令相关信息对应于相应操作类型对应的第二寄存器指令；所述修改后的寄存器指令集中包括一个或多个目标指令组，所述目标指令组是本次修改后的寄存器指令所在的指令组；所述根据修改后的寄存器指令集生成测试向量，包括：根据每个目标指令组对应的操作类型和指令相关信息，将所述指令相关信息填充至所述操作类型对应的测试向量模板，生成每个目标指令组各自对应的子测试向量；根据每个目标指令组各自对应的子测试向量，生成测试向量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京象帝先计算技术有限公司 生成测试向量的方法、装置、电子设备及存储介质

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