申请/专利权人：东莞亿安软件有限公司

申请日：2022-03-07

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN114597623B

主分类号：H01P11/00

分类号：H01P11/00;H01P1/20

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2022.06.24#实质审查的生效;2022.06.07#公开

摘要：本发明公开了一种滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质，涉及滤波器调试技术领域，所述方法包括：确定待调谐振螺钉，并获取所述待调谐振螺钉的第一深度偏差；获取与所述待调谐振螺钉相邻的第一待调耦合螺钉的第二深度偏差；获取所述待调谐振螺钉对应的第一比值；根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值；根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，以根据所述第一待调深度偏差将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度。本发明能够提高滤波器辅助调试效率。

主权项：1.一种滤波器辅助调试方法，其特征在于，应用于滤波器辅助调试装置；所述滤波器辅助调试装置用于调试滤波器；所述滤波器通过调谐螺钉进行调谐；所述调谐螺钉包括若干耦合螺钉和若干谐振螺钉，所述方法包括：确定待调谐振螺钉，并获取所述待调谐振螺钉的第一深度偏差；其中，所述待调谐振螺钉为所述若干谐振螺钉之一；所述第一深度偏差为所述待调谐振螺钉实际进入所述滤波器的深度和第一预期深度之差；获取与所述待调谐振螺钉相邻的第一待调耦合螺钉的第二深度偏差；所述第一待调耦合螺钉为所述若干耦合螺钉之一；所述第二深度偏差为所述第一待调耦合螺钉实际进入所述滤波器的深度和第二预期深度之差；获取所述待调谐振螺钉对应的第一比值；其中，所述第一比值通过实验得到，所述第一比值用于表征所述待调谐振螺钉在所述第一待调耦合螺钉深度调整后跟随变化的深度偏差；根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值；根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，以根据所述第一待调深度偏差将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度；所述根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值，包括：计算所述第二深度偏差与所述第一比值的积，得到第一偏差变化值；对应的，所述根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，包括：计算所述第一偏差变化值与所述第一深度偏差的和，得到所述第一待调深度偏差。

全文数据：

权利要求：

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