申请/专利权人：上海飞机制造有限公司

申请日：2023-09-04

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN220625191U

主分类号：G01B11/00

分类号：G01B11/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权

摘要：本实用新型属于检测设备技术领域，公开了定位装置及影像批量检测设备，该定位装置设有第一基准平面和第二基准平面，第一基准平面对与第一基准平面相邻的工件贴合定位，第二基准平面对与第二基准平面相邻的工件贴合定位，第一基准平面和第二基准平面均设有多个第一凹槽；分隔件被配置为设置在任意两个相邻的工件之间，分隔件设有第一测量基准结构。第一凹槽的设置使得工件上有多处悬空，通过获取工件上多处悬空的部分能够检测和计算出工件的尺寸和或形位公差；通过在分隔件上设置第一测量基准结构，使得该定位装置能够不限尺寸的同时对多个工件进行定位，且不会遮挡工件的边缘特征，显著提高了定位装置的通用性，提升了检测工件的检测效率。

主权项：1.定位装置，用于对工作台5上的多个工件2定位，多个所述工件2在所述工作台5上呈矩形阵列排布，其特征在于，包括基准台1和分隔件3，所述基准台1设有垂直分布的第一基准平面11和第二基准平面12，所述第一基准平面11用于对与所述第一基准平面11相邻的所述工件2贴合定位，所述第二基准平面12用于对与所述第二基准平面12相邻的所述工件2贴合定位，所述第一基准平面11和所述第二基准平面12均设有多个第一凹槽13；所述分隔件3被配置为设置在任意两个相邻的所述工件2之间，所述分隔件3设有第一测量基准结构32，所述第一测量基准结构32用于对与所述第一测量基准结构32相邻的所述工件2贴合定位。

全文数据：

权利要求：

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